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XT V 160是一款易于使用、经济高效的高质量PCB检测系统，适用于生产设施和失效分析实验室。

特点：

◎具有亚微米级焦点大小的NanoTech源

◎75度的倾斜角度，可对BGA进行较佳检测

• 亚微米级的焦点尺寸NanoTech™射线管 

• 快速获取高品质的图像 

• 可以同时放置多件样品的大托盘载物台 

• 可以自定义宏让工作流程自动化

引进功能

• 灵活的操作集成到一个紧凑的系统里 

• 人机交互式的可视化功能 

• 全自动X射线检测功能 

• 详细分析用的CT功能（选配） 

• 最大可达75°的倾斜观测角度 

• 直观的GUI界面与交互式操作杆导航功能进行快速检测 

• 便于维护的开管式设计使得维护成本被降低到最小 

• 不需要额外保护措施的射线计量安全系统 

• 占用空间小，重量轻，安装设置简便 

用途 

• BGA检测分析 

• 焊锡空洞检测 

• 通孔检测 

• 芯片银胶空洞检测 

• 球形引脚连接检测 

• 压线连接检测 

• 微小BGA检测 

• Padarray检测