——适用于材料科学、传感/电气工程、测量技术、地质/生物等领域
phoenixnanotomm是一个nanoCT系统用于科学与工业计算机断层扫描(microCT与nanoCT)与众多样品范围的三维测量
源于独特的温度稳定的数字GEDXR检测器(3072x 2400像素)的极高的图像质量用于高动态范围>10,000:1
新的开放的180千伏/15瓦高功率纳米焦点X射线管具有高达200纳米的细节探测能力和内部冷却-对长期稳定性来说是极好的 用于三维测量应用的测量束包括： 温度稳定的机柜；高度直接测量系统；操作器的防振；菱形|窗口；2个校准目标；phoenixdatos|x2.0软件包“点击&测量CT”与三维“测量"
样品范围的独特的空间和对比分辨率-从小的材料到中等大小的包含3个数量级(0.25毫米到250毫米样品尺寸与3千克/6.6磅样品重量）的塑料样品 三维测量包用于稳定的获取条件、几分钟之内的快速重建和可重复的测量结果 易用性源于系统设计与先进的phoenixdatos|x2.0CT软件 菱形|窗口可达到极高焦点稳定性并以同样的高图像质量水平进行快达2倍的数据采集
三维计算机断层扫描
工业X射线三维计算机断层扫描(microCT与nanoCT)的经典应用是对金属和塑料铸件的检测和三维测量。然而，phoenix|X射线的高分辨率X射线技术开辟了在众多领域的新应用，如传感器技术、电子、材料科学以及许多其他自然科学。
SMD感应器的nanoCT,尺寸0805(2.0毫米x1.2毫米).三维X射线图像显示了后盖后的内部线圈。在任何常规的X光片中，图层面板都是重叠的，但nanoCT成功地将对象逐层显示。
测量
用X射线进行的三维测量是特殊的可对复杂物体内部进行无损测量的技术。通过与传统的触觉坐标测量技术的对比，对一个物体进行计算机断层扫描的同时可获得的曲面点-包括很多无法使用其他测量方法无损进入的隐蔽形体，如底切。v|tome|xs有一个特殊的三维测量包，其中包含空间测量所需的任何工具，从校准仪器到表面提取模块,具有可能的更大精度，可再现且易于使用.除了二维壁厚测量，CT体数据可以快速方便地与CAD数据进行比较，例如，分析完成元件，以确保其符合要求的规定尺寸。
图为对气缸盖3个装置的CAD差异分析和测量
